Frecral LeguraFOIL / Strip zavojnica 0,05 mm debljina za metalne supstrate saća

Visoki aluminijski sadržaj, u kombinaciji sa visokim sadržajem hroma uzrokuje porast temperature skaliranja do 1425 C (2600F); Pod naslovnim otporom na toplinu, oviFrecral Leguras se upoređuju sa uobičajenim legurima FE i NI baza. Kao što se vidi iz te tablice,Frecral LeguraS imaju vrhunsku svojstva u odnosu na ostale legure u većini okruženja.

Treba napomenuti da, za vrijeme izmjeničnih temperaturnih uvjeta, prevrtanje na AF Legura koji je također poznat kao fedralloyine legure, poboljšava pridržavanje zaštitnog oksida, čineći uslužnim vijek trajanjem komponenti u afulnoj liniji.

Fe-Cr-al legure su izrađene od aluminijskih aluminijskih legura od željeza koji sadrže male količine reaktivnih elemenata kao što su ytrium i cirkonijum i proizvedeni toplim, čeličnim kotrljanjem, kovanjem, zakrivanjem, test za kontrolu otpora itd.
Fe-Cr-AL žica oblikovana je pomoću velike brzine automatskog rashladnog stroja od kojih je kapacitet snage upravlja računarom, dostupni su kao žica i vrpca (traka).

Značajke i prednosti
1. Visoka upotreba temperature, maksimalno korištenje temperature može doći do 1400C (0CR21A16NB, 0CR27A17MO2, itd.)
2. Koeficijent niskog temperature otpora
3. Donja toplotna koeficijenta ekspanzije od super-legura NI-base.
4. Visoka električna otpornost
5. Dobra otpornost na koroziju pod visokom temperaturom, posebno pod atmosferom koja sadrži sulfide
6. Visoko površinsko opterećenje
7. Otporan na puzanje
8. Donji trošak sirovina, niže gustoće i jeftinija cijena u usporedbi s nihrom žicom.
9. Vrhunski otpor oksidacije na 800-1300ºC
10. Dugi radni vijek

Formiranje metastabilnih alumina faza zbog oksidacije komercijalnogFrecral LeguraIspitane su žice (debljine 0,5 mm) na raznim temperaturama i vremenskim periodima. Uzorci su bili izotermu oksidirani u zraku koristeći termogravimetrijski analizator (TGA). Morfologija oksidiranih uzoraka analizirana je pomoću elektronskog elektronskog mikroskopa skeniranja (ESEM) i rendgenski rendgen na površini rađen je korištenjem energetskog disperzivnog rendzera (EDX) analizatora. Tehnika rendgenske difrakcije (XRD) korištena je za karakterizaciju faze rasta oksida. Čitava studija pokazala je da je bilo moguće uzgajati gama alumina gama na visokoj površiniFrecral LeguraŽičane površine kada je izotermalno oksidiran iznad 800 ° C tokom nekoliko sati.